無損檢測(cè)
無損檢測(cè)是指在不破壞被檢測(cè)材料、零部件或設(shè)備的前提下,應(yīng)用一定的檢測(cè)技術(shù)和分析方法,對(duì)制造和使用過程中的被檢測(cè)物體的內(nèi)部結(jié)構(gòu)、幾何關(guān)系、物理性能與狀態(tài)以及各種缺陷等加以測(cè)定,并按一定的準(zhǔn)則對(duì)其做出評(píng)價(jià)的過程。常用的無損檢測(cè)方法有超聲檢測(cè)、射線檢測(cè)、渦流檢測(cè)、磁粉檢測(cè)和滲透檢測(cè)。
總體概況
涂膜厚度將影響涂膜和各項(xiàng)性能,尤其是涂膜和物理力學(xué)性能受厚度的影響最明顯,因此,為保證涂膜能提供有效的保護(hù)作用,涂層應(yīng)均勻地達(dá)到一定厚度。同時(shí),對(duì)于涂層各種性能測(cè)定,為正確提供實(shí)驗(yàn)結(jié)果,準(zhǔn)確測(cè)定并報(bào)告涂膜厚度是必不可少的。通常,規(guī)定的涂膜厚度可用平均厚度或最小厚度表示。涂膜厚度測(cè)量有濕膜測(cè)量和干膜測(cè)量。干膜往往是由濕膜厚度決定的,因此近年常進(jìn)行濕膜厚度的測(cè)定,用以控制干膜厚度。
涂層厚度檢測(cè)檢測(cè)相關(guān)技術(shù)標(biāo)準(zhǔn)
標(biāo)準(zhǔn)名稱:色漆和清漆 漆膜厚度的測(cè)定
標(biāo)準(zhǔn)編號(hào):GB/T13452.2-2008
發(fā)布時(shí)間:2008年5月14日
實(shí)施日期:2008年10月1日
標(biāo)準(zhǔn)概述:本部分規(guī)定了一系列用于測(cè)量涂敷至底材上的涂層的厚度的方法,包括測(cè)量濕膜厚度、干膜厚度、未固化粉末涂層厚度及粗糙表面上漆膜厚度的方法。
標(biāo)準(zhǔn)名稱:Standard Test Method for Nondestructive Measurement of Film Thickness of Pipeline Coatings on Steel
標(biāo)準(zhǔn)編號(hào):ASTM G12-07
標(biāo)準(zhǔn)概述:This standard is issued under the ?xed designation G12; the number immediately following the designation indicates the year of original adoption or, in the case of revision, the year of last revision. A number in parentheses indicates the year of last reapproval. A superscript epsilon (ε) indicates an editorial change since the last revision or reapproval.
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