日前，在北京科技大學材料科學與工程學院張躍教授的指導下，博士生李培峰與中科院物理所的合作者利用原位TEM機械共振，研究了ZnO微/納米線在高周應變下的疲勞行為，在一維納米材料在各種場下的服役方面的研究取得新進展。

　　該研究系統研究了ZnO微/納米線的彈性模量隨直徑的變化以及ZnO微/納米線共振振幅在阻尼效應作用下隨共振時間及周次衰減的區別。ZnO微/納米線經過108-109周次共振都顯示了良好的疲勞性能，而遭受電子束輻照10 min后的ZnO納米線共振幾秒后即發生斷裂，這在國際上尚屬首次發現。
 

　　這項研究取得進展后，李培峰以第一作者身份在《Nano Letters》（影響因子12.94）和《ACS Applied Materials and Interfaces》（影響因子5.90）分別發表論文一篇。

　　這一研究結果為基于ZnO納米材料的力電納米器件的設計、構建、優化及應用提供了有益的指導，也為工作在紫外光、X射線下的納米材料及器件的安全服役提供了參考。

氧化鋅和氮化鎵納米線

　　另外，李培峰還利用自己實驗室搭建的納米操控系統研究了ZnO納米線在電場中的服役行為。研究發現ZnO納米線電致損傷的閾值電壓隨直徑的增大呈線性增大，而電流密度隨直徑的增大呈指數減小。并提出了熱核-殼模型對ZnO納米線的電致損傷機制進行解釋。納米材料電致損傷研究對指導光電、力電和壓電納米器件的實際應用是非常有必要的。此外，一系列利用AFM研究ZnO納米線在力場及力電耦合場中的服役行為的研究結果尚未公開發表。

責任編輯：李玲珊

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