鋁在制作復(fù)合材料上有許多特點(diǎn),如質(zhì)量輕、密度小、可塑性好,鋁基復(fù)合技術(shù)容易掌握,易于加工等。此外,鋁基復(fù)合材料比強(qiáng)度和比剛度高,高溫性能好,更耐疲勞和更耐磨,阻尼性能好, 熱膨脹系數(shù)低。同其他復(fù)合材料一樣,它能組合特定的力學(xué)和物理性能,以滿足產(chǎn)品的需要。因此,鋁基復(fù)合材料已成為金屬基復(fù)合材料中最常用的、最重要的材料之一。
按照不同的增強(qiáng)體, 鋁基復(fù)合材料分為顆粒(直徑在0.5~100μm之間的等軸晶粒)增強(qiáng)和纖維(包括短晶須)增強(qiáng)鋁基復(fù)合材料。
1. 顆粒增強(qiáng)鋁基復(fù)合材料
采用顆粒增強(qiáng)制備鋁基復(fù)合材料成本相對(duì)較低,原材料資源豐富,制備工藝簡(jiǎn)單。選擇適當(dāng)?shù)脑鰪?qiáng)顆粒與基體組合可制備出性能優(yōu)異的復(fù)合材料, 具有很大的發(fā)展?jié)摿蛻?yīng)用前景。顆粒增強(qiáng)鋁基復(fù)合材料的增強(qiáng)體主要有SiC、TiB2、和B4C。
1.1 鋁基SiC復(fù)合材料
圖1 (a) 67.5 vol.%SiCp/Al 復(fù)合材料。 (b) 68.0 vol.%SiCp/Al 復(fù)合材料。
作者制備了60.5–68.0 vol.%SiCp/Al 高含量陶瓷顆粒復(fù)合材料,圖1(a)與圖1(b)為該復(fù)合材料在光學(xué)顯微鏡下拍到的金相圖片。從圖中可以看出雖然SiC顆粒粒徑大小不一,但是其在基體中的分布還是較為均勻的。由于陶瓷顆粒含量很高,在復(fù)合材料內(nèi)部微小孔洞也就不可避免了。陶瓷顆粒的含量越高,那么其微小空洞的數(shù)量也就越多。
圖2復(fù)合材料一組和二組陶瓷顆粒含量
圖3 復(fù)合材料一組與二組的拉伸強(qiáng)度(a)和彈性模量(b)
作者通過(guò)對(duì)1組與2組的拉伸試驗(yàn)的對(duì)比得出同含量下,粒徑小的陶瓷顆粒對(duì)機(jī)體的增強(qiáng)效果較為顯著。
1.2 鋁基TiB2復(fù)合材料
圖4 納米顆粒增強(qiáng)與微米顆粒增強(qiáng)的應(yīng)力應(yīng)變曲線
作者采用攪拌鑄造法分別制備了相同體積分?jǐn)?shù)但是TiB2顆粒粒徑不同的鋁基TiB2復(fù)合材料。從圖4兩者的力學(xué)性能比較可以看出,納米級(jí)TiB2陶瓷顆粒對(duì)基體的強(qiáng)化效果較為顯著,塑形也有很大的提高(TiB2陶瓷顆粒體積分?jǐn)?shù)在1.5%時(shí),達(dá)到最大值)在這一現(xiàn)象的背后的理論支撐來(lái)自于:晶粒細(xì)化、位錯(cuò)強(qiáng)化等理論。
1.3 鋁基B4C復(fù)合材料
圖5 界面處掃描電子顯微鏡圖片(a)界面示意圖(b)界面處能譜線掃描(c)
作者采用放電等離子燒結(jié)方法制備了鋁基B4C復(fù)合材料,同時(shí)又因?yàn)锽4C具有中子吸收性能,所以該復(fù)合材料作為功能性復(fù)合材料常用作核電站乏燃料池中的中子吸收板。作者采用能譜中的線掃描(EDS)以及電子掃描顯微鏡(SEM)對(duì)復(fù)合材料中金屬和陶瓷顆粒的界面進(jìn)行了研究,探討了界面處的各產(chǎn)物。
2. 纖維增強(qiáng)鋁基復(fù)合材料
連續(xù)纖維增強(qiáng)鋁基復(fù)合材料性能優(yōu)異,已在航天航空、軍事領(lǐng)域等作為高強(qiáng)度耐高溫材料顯示出巨大的應(yīng)用潛力。晶須增強(qiáng)鋁基復(fù)合材料具有高的比強(qiáng)度、比模量、 良好的熱穩(wěn)定性以及抗疲勞、耐磨損等優(yōu)良性能,已得到迅速發(fā)展,成為鋁基復(fù)合材料的一個(gè)重要分支。
2.1 碳纖維增強(qiáng)鋁基復(fù)合材料
圖6 碳纖維增強(qiáng)鋁基復(fù)合材料斷口圖片
作者采用了高壓壓鑄的方法制備了碳纖維增強(qiáng)鋁基復(fù)合材料。圖6(a)與(b)由于加入的碳纖維含量較低,因此在斷口處并沒(méi)有看到碳纖維拉出與基體分離現(xiàn)象。圖6(c)與(d)碳纖維的含量較高,在拉伸斷口處可以看到碳纖維與基體的分離現(xiàn)象。分離現(xiàn)象主要發(fā)生在增強(qiáng)區(qū)與非增強(qiáng)區(qū)的界面處。
2.2 鋁基SiCw復(fù)合材料
圖7 AA7039+20% SiCw透射圖
作者對(duì)AA7039+20%SiCw的熱擠壓加工進(jìn)行了研究。通過(guò)透射電鏡,作者發(fā)現(xiàn)SiC晶須會(huì)沿著擠壓方向有著明顯的分布(擠壓比0.33),并且大量的SiC晶須在擠壓過(guò)程中發(fā)生了斷裂。盡管SiC晶須斷裂,但是其依然與基體有著很好的結(jié)合。
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