來自印度和日本的科學家們開發了一種使用石墨烯基晶體管檢測致病基因的新方法。石墨烯場效應晶體管（GFETs）能夠通過DNA雜交檢測出致病基因：當DNA探針與與之互補的靶DNA結合時，晶體管的導電性改變。

    來自日本國家材料科學研究所的Nobutaka Hanagata及其同事對石墨烯傳感器進行了改進，他們通過干燥過程將DNA探針結合在晶體管上，這樣就不需要此前常用的昂貴而費時的偶聯劑核苷酸序列。

    研究團隊設計的GFETs由沉積在硅基底上的含鈦-金電極的石墨烯組成，然后將DNA探針鹽溶液滴加在上面，并使之干燥。他們發現這種干燥過程可以直接將DNA探針固定在石墨烯表面，無需任何偶聯劑。隨后，他們將含有靶標DNA的鹽溶液滴加至其表面，孵育4小時使DNA雜交。

    通過這些過程，GFETs成功工作，研究人員發現當探針與靶標結合時，傳感器導電能力發生了改變，這意味著存在致病靶標基因，而使用其他非互補基因時，傳感器導電能力無變化。

    DNA雜交可以通過給靶標DNA結合上熒光分子進行檢測，這種情況下一旦發生雜交，傳感器就會發光。但是這種方法涉及的標記過程復雜，同時還需要昂貴的檢測器檢測熒光。而GFERs則是一個檢測致病基因更便宜、更容易操作且更敏感的選擇。

    “接下來我們將進一步優化GFETs的功能以用于未來的生物傳感器領域，尤其是在檢測遺傳疾病等方面的應用。”研究人員在他們發表于Science and Technology of Advanced Materials上的文章中總結道。

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責任編輯：龐雪潔

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