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  2. 天津大學(xué)Corros. Sci.:氫含量對(duì)304奧氏體不銹鋼焊接接頭拉伸斷裂失效機(jī)制轉(zhuǎn)變的影響
    2017-11-14 09:30:10 作者:本網(wǎng)整理 來(lái)源:材料人 分享至:

       1.jpg

     

       【引言】


        加工或服役過(guò)程中,氫原子會(huì)吸附于金屬表面,并滲透、擴(kuò)散、聚集于某些部位,造成宏觀塑性和強(qiáng)度明顯降低,即氫脆現(xiàn)象。近年來(lái)由于氫能源行業(yè)快速發(fā)展,對(duì)于服役于氫環(huán)境的抗氫材料的性能提出了更高的要求。300系列奧氏體不銹鋼因其較高抗氫脆性和和焊接性被廣泛應(yīng)用于含氫環(huán)境的承載構(gòu)件。


        與奧氏體相比,氫在α′馬氏體中的擴(kuò)散系數(shù)較高但溶解度較低,因此,不銹鋼中馬氏體的存在會(huì)增加材料的氫脆敏感性。再者,亞穩(wěn)定奧氏體不銹鋼在塑性變形過(guò)程中會(huì)經(jīng)歷從奧氏體轉(zhuǎn)變?yōu)?alpha;′馬氏體的應(yīng)力誘發(fā)馬氏體轉(zhuǎn)變,遭受較嚴(yán)重氫脆。許多前期研究發(fā)現(xiàn)氫對(duì)應(yīng)力誘發(fā)馬氏體轉(zhuǎn)變和斷裂機(jī)制有明顯影響。


        焊接過(guò)程中復(fù)雜的熱循環(huán)使焊縫金屬具有特殊的微觀結(jié)構(gòu),這些微觀結(jié)構(gòu)影響氫傳輸并導(dǎo)致焊縫金屬有較高的氫脆敏感性。因此,研究氫對(duì)奧氏體不銹鋼焊接接頭性能和失效機(jī)制的影響對(duì)理解奧氏體不銹鋼氫脆尤為重要。


        【成果簡(jiǎn)介】


        近日,天津大學(xué)材料學(xué)院研究人員李曉剛、龔寶明(通訊作者)、鄧彩艷(通訊作者)和李一哲在Corrosion Science發(fā)表題為名為“Failure mechanism transition of hydrogen embrittlement in AISI 304 K-TIG weld metal under tensile loading”的研究論文。研究人員通過(guò)對(duì)焊接接頭進(jìn)行不同電流密度的預(yù)充氫來(lái)研究氫-馬氏體相變耦合作用下奧氏體不銹鋼接頭氫脆失效機(jī)制的轉(zhuǎn)變。充氫電流密度從10 mA/cm2增加至100 mA/cm2,氫含量升高,接頭均失效于焊縫,脆性區(qū)失效模式從準(zhǔn)解理/解理失效轉(zhuǎn)變?yōu)檠鼐В芯咳藛T提出這種失效模式的轉(zhuǎn)變與不同氫含量下應(yīng)力誘發(fā)α′馬氏體形成位置的改變有關(guān)。低電流密度(<50 mA/cm2)下應(yīng)力誘發(fā)馬氏體均勻形成于奧氏體晶粒內(nèi)部,裂紋于晶內(nèi)起裂、擴(kuò)展;高電流密度(>50 mA/cm2)下晶界氫富集嚴(yán)重,應(yīng)力誘發(fā)馬氏體形成于晶界,晶界應(yīng)變集中嚴(yán)重裂紋優(yōu)先于晶界起裂、擴(kuò)展最終沿晶失效。


        【圖文導(dǎo)讀】


    1

        圖1 不同充氫電流密度下試樣中氫含量

     

        (a)升溫脫氫分析(b)氫含量

     

    2

        圖2 不同充氫電流密度下試樣拉伸性能

     

        (a)應(yīng)力-應(yīng)變曲線(b)伸長(zhǎng)率δ和氫脆敏感指數(shù)δHE(c)斷面收縮率Ψ和氫脆敏感指數(shù)ΨHE

     

    3

        圖3 不同充氫電流密度試樣斷口全貌和斷口側(cè)面(SEM)

     

    4

        圖4 不同充氫電流密度試樣斷口形貌(SEM)

     

        (a)未充氫試樣斷口(b)(e)(h)(k)充氫試樣斷口脆/塑性區(qū)邊界(c)(f)(i)(l)充氫試樣斷口斷口脆性區(qū)(d)(g)(j)(m)充氫試樣斷口斷口塑性區(qū)

     

    5

        圖5 不同充氫電流密度下試樣EBSD分析

     

        (a)晶粒取向分布圖(b)Kernel平均取向差分

     

    6

        圖6 充氫電流密度10 mA/cm2試樣斷裂后TEM分析

     

        (a)形變孿晶(b)α′馬氏體

     

    7

        圖7 充氫電流密度30 mA/cm2試樣斷裂后TEM分析

     

        (a)形變孿晶和α′馬氏體(b)低密度位錯(cuò)

     

    8

        圖8 充氫電流密度50 mA/cm2試樣斷裂后TEM分析

     

        (a)高密度堆垛層錯(cuò)(b)脆性區(qū)內(nèi)部解理斷裂處(對(duì)應(yīng)圖4(h))晶內(nèi)α′馬氏體(c)脆性區(qū)接近試樣表面沿晶斷裂處(對(duì)應(yīng)圖4(i))晶界α′馬氏體(d)沿α′馬氏體裂紋

     

    9

        圖9 充氫電流密度100 mA/cm2試樣斷裂后TEM分析

     

        (a)晶界附近α′馬氏體(b)晶界附近高密度位錯(cuò)(c)晶界附近孿晶

     

    10

        圖10 低充氫電流密度下接頭氫脆失效機(jī)理圖

     

    11

        圖11 高充氫電流密度下接頭氫脆失效機(jī)理圖

     

       【小結(jié)】


        通過(guò)對(duì)AISI 304奧氏體不銹鋼焊接接頭中氫含量對(duì)拉伸斷裂失效機(jī)制的影響,主要得到如下結(jié)論:


        (1)氫導(dǎo)致接頭嚴(yán)重的宏觀塑性和強(qiáng)度損失,且這種損失隨充氫電流密度的增加而增加,充氫電流密度超過(guò)50 mA/cm2,塑性和強(qiáng)度損失達(dá)到最大;(2)充氫電流密度從10 mA/cm2增加至100 mA/cm2,脆性區(qū)失效模式從準(zhǔn)解理/解理失效轉(zhuǎn)變?yōu)檠鼐?;?)這種失效模式的轉(zhuǎn)變與晶界附近出現(xiàn)的高密度位錯(cuò)、嚴(yán)重局部氫富集、應(yīng)力誘發(fā)α′馬氏體、形變孿晶的相互作用有關(guān)。


        文獻(xiàn)鏈接:Failure mechanism transition of hydrogen embrittlement in AISI 304 K-TIG weld metal under tensile loading(Corros. Sci.,November 8,2017,DOI:10.1016/j.corsci.2017.10.032)

     

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