掃描電化學(xué)顯微鏡
2016-05-31 10:26:36
SECM微探針在非常靠近基底電極表面掃描時，掃描微探針的氧化還原電流具有反饋的特性，并直接與溶液組分、微探針與基底表面距離以及基底電極表面特性等密切相關(guān)。因此，掃描測量在基底電極表面不同位置上微探針的法拉第電流圖像，即可直接表征基底電極表面形貌和電化學(xué)活性分布。SECM不但可以測量探頭和基底之間的異相反應(yīng)動力學(xué)過程及本體溶液中的均相反應(yīng)動力學(xué)過程，還可以通過反饋電信號描繪基底的表面形貌，研究腐蝕和晶體溶解等復(fù)雜過程。
總體概況
掃描電化學(xué)顯微鏡（SECM）是基于掃描隧道顯微鏡發(fā)展而產(chǎn)生出來的一種分辨率介于普通光學(xué)顯微鏡與STM之間的電化學(xué)原位測試新技術(shù)。SECM的最大特點是可以在溶液體系中對研究系統(tǒng)進(jìn)行實時、現(xiàn)場、三維空間觀測，有獨特的化學(xué)靈敏性。
國家材料環(huán)境腐蝕平臺中心擁有M370掃描電化學(xué)工作站，配置有掃描電化學(xué)顯微鏡，可用于檢測、分析或改變樣品在溶液中的表面和界面化學(xué)性質(zhì)。
圖1 M370掃描電化學(xué)工作站
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