15.X射線衍射XRD
分析原理:X射線是原子內層電子在高速運動電子的轟擊下躍遷而產生的光輻射,主要有連續X射線和特征X射線兩種。晶體可被用作X光的光柵,這些很大數目的原子或離子/分子所產生的相干散射將會發生光的干涉作用,從而影響散射的X射線的強度增強或減弱。由于大量原子散射波的疊加,互相干涉而產生最大強度的光束稱為X射線的衍射線。
滿足衍射條件,可應用布拉格公式:2dsinθ=λ
應用已知波長的X射線來測量θ角,從而計算出晶面間距d,這是用于X射線結構分析;另一個是應用已知d的晶體來測量θ角,從而計算出特征X射線的波長,進而可在已有資料查出試樣中所含的元素。
以下是使用XRD確定未知晶體結構分析過程:
XRD確定未知晶體結構分析過程
16.納米顆粒追蹤表征
分析原理:納米顆粒追蹤分析技術, 利用光散射原理,不同粒徑顆粒的散射光成像在CCD上的亮度和光斑大小不一樣,依此來確定粒徑尺寸; 合適濃度的樣品均質分散在液體中可以得出粒徑尺寸分布和顆粒濃度信息, 準確度非常高。
不同粒徑顆粒的散射光成像在CCD
實際樣品測試效果
不同技術的數據對比
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